SN74BCT8374ADWRE4
- 型号： SN74BCT8374ADWRE4
- 品牌： Texas Instruments
- 属类： 逻辑-专业逻辑1
- 说明： IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- 数据表：
规格
| 产品属性 | 属性值 |
| Packaging: | Tape & Reel (TR) |
| Series: | 74BCT |
| Logic Type: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Supply Voltage: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Number of Bits: | 8 |
| Operating Temperature: | 0C ~ 70C |
| Mounting Type: | Surface Mount |
| Package / Case: | 24-SOIC (0.295 |
| Supplier Device Package: | 7.50mm Width) |
| Other: | 24-SOIC,,, |
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